溫度的測(cè)量方法大致可分為兩種：接觸法和非接觸法。在接觸測(cè)溫法中，熱電偶和熱電阻溫度計(jì)應(yīng)用尤為廣泛，該方法的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備和操作簡(jiǎn)單，測(cè)得的是物體的真實(shí)溫度等，其缺點(diǎn)是動(dòng)態(tài)特性差，由于要接觸被測(cè)物體，故對(duì)被測(cè)物體的溫度分布有影響， 且不能應(yīng)用于甚高溫測(cè)量。目前非接觸測(cè)溫法仍以輻射測(cè)溫法為主，在過去相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間里，輻射測(cè)溫法的可靠性和抗干擾性都不太高，且測(cè)量范圍往往僅限于較高溫度。但近年來， 由于電子技術(shù)的飛快發(fā)展，半導(dǎo)體材料的進(jìn)步及計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用，又由于輻射測(cè)溫法具有無(wú)測(cè)量上限，響應(yīng)速度快及不接觸被測(cè)對(duì)象，因而不影響被測(cè)溫場(chǎng)等特點(diǎn)，輻射測(cè)溫技術(shù)得到長(zhǎng)足的進(jìn)步和發(fā)展。儀器的制造水平、性能指標(biāo)已有了顯著提高， 輻射真溫測(cè)量研究、標(biāo)定技術(shù)研究及應(yīng)用技術(shù)研究方面亦取得了豐碩成果。由于此系統(tǒng)應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境惡劣，要求有極快的響應(yīng)速度，且不可能直接測(cè)量，故選擇非接觸測(cè)溫中輻射測(cè)溫法。

傳統(tǒng)的輻射測(cè)溫法無(wú)法測(cè)得目標(biāo)的真溫，只能測(cè)得目標(biāo)的亮度溫度，還需要知道目標(biāo)的發(fā)射率，才能求得目標(biāo)的真實(shí)溫度。對(duì)于爆炸火焰及來說，發(fā)射率的預(yù)先測(cè)得是不可能的， 所以我們采用了近年來出現(xiàn)的多光譜測(cè)溫技術(shù)——即在一個(gè)儀器中制成多個(gè)光譜通道，利用多個(gè)光譜下的物體輻射亮度測(cè)量信息，再經(jīng)數(shù)據(jù)處理而得到物體的溫度。

目前采用的測(cè)溫方式可以分為接觸式測(cè)溫和非接觸式測(cè)溫，簡(jiǎn)要列表如下。

     有需要進(jìn)一步探討接觸式測(cè)溫和非接觸式測(cè)溫，可以咨詢我司技術(shù)人員。

      我司主要生產(chǎn)熱流傳感器，輻射熱流傳感器、水冷式熱流計(jì)等。